Contacts : administrateur[at]sondeslocales.fr (questions techniques / formations) ou offres[at]sondeslocales.fr (pour les offres d'emplois)
| Affecté | Type d'offre | Date limite | Sujet | Mail contact | |
|---|---|---|---|---|---|
| Non | Post Doc | 15/12/2015 | Caractérisation des parois végétales de lin par microscopie à force atomique (AFM) et nanoindentation | alain.bourmaud@univ-ubs.fr | ANNONCE POST DOC LIMATB.pdf (745 KB) |
| Non | Thèse | 01/10/2015 | Sonder les effets des contraintes mécaniques sur les propriétés électroniques d'un nanofil de nitrure d'éléments III pour les dispositifs de conversion d'énergie | rudeesun.songmuang@cea.fr | Annonce-These-Nanopiezo.pdf (200 KB) |
| Non | Post Doc | 31/07/2015 | Comportement tribologique des amines grasses et leurs composés dérivés | franck.dahlem@ec-lyon.fr | annoncepostdocvf.pdf (151 KB) |
| Non | Thèse | 31/07/2015 | Couplage fluorescence - spectroscopie de force en HS-AFM : développement instrumental et applications à l'étude d'objets biomoléculaires | michael.molinari@univ-reims.fr | Sujet_Thèse_LRN_HSAFM.pdf (474 KB) |
| Non | Thèse | 01/04/2015 | Couplage entre Spectroscopie de RX et Microscopie en Champ Proche | didier.tonneau@univ-amu.fr | tonneau_these_ED352-2015.pdf (67 KB) |
| Non | Master | 31/01/2015 | Development of advanced AFM characterization methods for photovoltaics | Lukasz.Borowik@cea.fr | 2015-illumination final eng.pdf (36 KB) |
| Non | Master | 31/01/2015 | Caractérisation d'interfaces métal/diélectrique et semi-conducteur/diélectrique par mesures en champ proche | christina.villeneuve@laplace.univ-tlse.fr | sujet-master.pdf (48 KB) |
| Non | Master | 15/01/2015 | Utilisation de plateformes à nanoplots d'or pour la détection de protéines individuelles par Microscopie Electrochimique à Force Atomique (AFM-SECM). | arnaud.chovin@univ-paris-diderot.fr | Sujet de stage M2_A_CHOVIN_LEM_P7.pdf (488 KB) |
| Non | Post Doc | Colloidal Gold Nanostructures for Plasmonics | sylvie.marguet@cea.fr | PostDoc-CEA.pdf (237 KB) | |
| Non | Post Doc | 05/01/2015 | Caractérisation de l'adhésion entre substrats cellulosiques | frederic.dubreuil@cermav.cnrs.fr | Recrutement_CellAdher.pdf (1461 KB) |
| Non | Maître de Conférence | 31/08/2015 | Poste MdC 63 section à l'institut FEMTO-ST | frank.palmino@univ-fcomte.fr | McF 63-Femto-st.pdf (401 KB) |
| Non | Thèse | 30/09/2015 | Elaboration de tags sécurisés à base de nanoparticules luminescentes par nanoxérographie pour la traçabilité de produits et la lutte anti-contrefaçon | laurence.ressier@insa-toulouse.fr | Sujet Thèse Nanoxérographie LPCNO 2015_VF.pdf (644 KB) |
| Non | Maître de Conférence | 31/05/2015 | Transport électronique atomique, moléculaire et de surface | christian.joachim@cemes.fr | Profil de poste MdC28 Toulouse III.pdf (195 KB) |
| Non | Ingénieur | 31/01/2015 | Ingénieur Analyste en Microscopies | marie.planchet@orsayphysics.com | ANNONCE IR MICROSCOPISTE 091214.pdf (253 KB) |
| Non | Maître de Conférence | 15/01/2015 | Compréhension et modélisation des mécanismes de déformation et d'endommagement dans un cadre multi-échelle | martine.kagane@ecp.fr | Profil MCF ECP MSSMat-fr.pdf (60 KB) |
| Non | Thèse | 30/01/2016 | Métrologie des techniques de microscopie à sonde locale électrique appliquées aux mesures de transport dans le domaine des semiconducteurs | francois.piquemal@lne.fr | Sujet thèse nanométrologie électrique_LNE_INL.pdf (46 KB) |
| Non | Thèse | 31/03/2015 | Vers de nouvelles voies de nanostructuration de surface : application à l'Au(111) | christophe.coupeau@univ-poitiers.fr | Sujet Thèse-Master Labex 2015 - COUPEAU.pdf (526 KB) |
| Non | Post Doc | 31/12/2016 | Functional Imaging of Enzymatic Nanosystems Reconstituted on a Virus Nano-Scaffold using Atomic Force Microscopy coupled to Electrochemistry | christophe.demaille@univ-paris-diderot.fr | Post-doc_Offer_eVIRZYM_2017.pdf (585 KB) |
| Non | Post Doc | 07/10/2016 | Support utilisateurs et développement autour du champ proche | pontoni@esrf.fr | PDPSCM-Post-doc-EN.pdf (88 KB) |
| Non | Ingénieur | 30/09/2016 | Développement d'un microscope à force atomique (NanoObserver, CSI) pour des mesures thermiques | severine.gomes@insa-lyon.fr | Ingénieur en techniques expérimentales.pdf (347 KB) |